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Publications

  1. S. Gregori; G. Torelli; V. Liberali; Massimo Gottardi,
    A Non Conventional Unit Distance Code for Optical Rotary Encoder Applications,
    Proceedings of ODIMAP III 3rd Topical meeting on Optoelectric Distance / Displacement measurements and Applications,
    2001
  2. Gian Franco Dalla Betta; David Stoppa; Andrea Simoni; Luca Ravezzi,
    A Versatile Photodiode SPICE Model for Optical Microsystem Simulation,
    in «MICROELECTRONICS»,
    vol. 31,
    2000
    , pp. 277 -
    282
  3. Pierluigi Bellutti; L. Eccel; Nicola Zorzi,
    The effect of stress polarity on positive charging in thin gate oxide,
    in «MICROELECTRONICS RELIABILITY»,
    vol. 40,
    2000
    , pp. 747 -
    750
  4. Pierluigi Bellutti; Maurizio Boscardin; Gian Franco Dalla Betta; Nicola Zorzi; Giovanni Soncini,
    Sensore di colore a tripla giunzione in tecnologia CMOS standard,
    Atti del 6° Convegno Nazionale `Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici` (ELETTROOTTICA 2000),
    2000
    , pp. 201-
    204
    , (Atti del 6° Convegno Nazionale `Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici` (ELETTROOTTICA 2000),
    Padova, Italy,
    03/05/2000 - 05/05/2000)
  5. Pierluigi Bellutti; Maurizio Boscardin; Gian Franco Dalla Betta; Lorenza Ferrario; Paolo Gregori; Nicola Zorzi,
    Surface and Bulk Properties of Oxygenated FZ Silicon Wafers for Particle Detector Applications,
    Proceedings of the Sixth International Symposium on High Purity Silicon,
    Electrochemical Society,
    vol.2000-17,
    2000
    , pp. 501-
    508
    , (Proceedings of the Sixth International Symposium on High Purity Silicon,
    Phoenix (AZ), USA,
    22/10/2000 - 27/10/2000)
  6. Pierluigi Bellutti; Gian Franco Dalla Betta; Nicola Zorzi; R. Versari; A. Pieracci; B. Riccò; M. Manfredi; Giovanni Soncini,
    Fowler Nordheim induced light emission from MOS diodes,
    Proceedings of the International Conference on Microelectronic Test Structures [IEEE-ICMTS 2000],
    IEEE,
    2000
    , pp. 223-
    226
    , (Proceedings of the International Conference on Microelectronic Test Structures [IEEE-ICMTS 2000],
    Monterey, USA,
    13/03/2000 - 16/03/2000)
  7. Pierluigi Bellutti; Nicola Zorzi; G. Verzellesi,
    Gate Oxide Reliability Improvement related to Dry Local Oxidation of Silicon,
    in «MICROELECTRONICS RELIABILITY»,
    vol. 39,
    1999
    , pp. 181 -
    185
  8. Andrea Simoni; G. Torelli; F. maloberti; A. Sartori; Massimo Gottardi; Lorenzo Gonzo,
    A 256x256-pixel CMOS digital camera for computer vision with 32 algorithmic ADC's on board,
    1999
    , pp. 184 -
    190
  9. Pierluigi Bellutti; Nicola Zorzi,
    On the better quality of wet-grown gate oxides,
    in «ELECTROCHEMICAL AND SOLID-STATE LETTERS»,
    vol. 2,
    n. 10,
    1999
    , pp. 525 -
    526
  10. Massimo Gottardi,
    A 1.5V battery fan switches On and OFF by hand,
    1999

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